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Perthometer S2粗糙度測量系統(tǒng)辦事處

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Perthometer S2粗糙度測量系統(tǒng)辦事處

優(yōu)點

Perthometer S2粗糙度測量系統(tǒng)測量儀適合于生產(chǎn)現(xiàn)場環(huán)境, 不但性能高而且操作簡易。 可處理在生產(chǎn)現(xiàn)場不斷增加的測量任務(wù), 進(jìn)行評定和文檔處理都表現(xiàn)*的靈活性。  按照 ISO, JIS 和 ASME 標(biāo)準(zhǔn), 可進(jìn)行對標(biāo)準(zhǔn)粗糙度, 波度及輪廓參數(shù)的評定。無滑塊傳感器結(jié)合容易更換的測尖, 可快速實現(xiàn)不同的測量任務(wù)。篤摯儀器主營關(guān)節(jié)臂,粗糙度儀,輪廓儀,圓度儀,圓柱度儀,淬火硬化層深無損測量儀,滲碳層測厚儀,滲氮層深度無損檢測儀,清潔度檢測系統(tǒng),內(nèi)窺鏡,投影儀,影像儀,光譜儀,測高儀,測長儀,齒輪嚙合儀,齒輪測量中心,探傷儀,測厚儀,硬度計,熱像儀等精密儀器。德國馬爾Perthometer S2粗糙度儀豐富的供貨配件和服務(wù)并不意味著操作上的困難. 你知道怎么使用街上的自動柜員機么?S2的使用就和它一樣簡單. - 讓您可以立即進(jìn)行測量!制造質(zhì)量, 納米級的測量精度只有普通的價格. - 性價比!可靠的安全性!聲光信號提示式公差監(jiān)控使毫無使用經(jīng)驗的操作著也能快速得知測量結(jié)果。

Perthometer S2粗糙度測量系統(tǒng)辦事處—如下特征:
1.依照現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)可實現(xiàn)粗糙度和波度測量
   (DIN EN ISO 3274, 例如: 帶通濾波器)
2. 重量輕 (不包括內(nèi)置充電電池)
3. 高分辨率的圖形顯示, 可清晰顯示測量結(jié)果和輪廓
4.基于自動測量原理和多測量元素, 使得操作更簡單
5.通過內(nèi)置熱敏打印機, 快速打印測量記錄
6.PCMCIA 存儲卡可存儲測量程序、測量結(jié)果和輪廓
7. S2Prog 擴展程序, 可簡單地建立測量程序
8. 用途廣泛和簡易應(yīng)用的軟件功能, 例如:
-  自動設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)濾波器和掃瞄長度功能
-  校準(zhǔn)和維護周期監(jiān)察功能
-  弧線濾除功能
-  動態(tài)和靜態(tài)校準(zhǔn)程序
-  多達(dá) 41 種評定參數(shù), 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
MOTIF, R, W, P 和 D 輪廓及特性曲線, 并可設(shè)定
MRC/ADC 不同比例縮放
-  濾波器和掃瞄長度可選
-  公差監(jiān)控, 以聲音和圖標(biāo)提示
-  密碼保護功能, 防止錯誤的設(shè)置和修改
-  內(nèi)置統(tǒng)計功能
-  獨立功能按鍵
-  簡易呼出和打印測量記錄及各種功能
- 通過 PCMCIA 記憶于進(jìn)行軟件升級
- SPC 接口可實現(xiàn) S2 與生產(chǎn)程序連接
- RS 232 接口可實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸和遠(yuǎn)程控制
—技術(shù)數(shù)據(jù)
測量原理 → 探針接觸測量法
測量范圍
范圍/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步長/垂直范圍
11,200 測量點/標(biāo)準(zhǔn)掃瞄長度
標(biāo)準(zhǔn)  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
輪廓類型  R, D, P, W (輪廓可例轉(zhuǎn)) 
垂直方向縮放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向縮放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
用于評定長度輪廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
圖形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
掃瞄長度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
掃瞄長度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊掃瞄長度 0.56 至 120.00 mm, 可調(diào)
(.022 in 至 4.724 in)
取樣長度個數(shù) 1 至 5, 可選
濾波器 (根據(jù) ISO/JIS)  相位濾波器 (高斯濾波器), 按照
DIN EN ISO 11562 標(biāo)準(zhǔn)
特殊濾波器  按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
截止波長 lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
(.003/.010/.032/.100/.320 in)
短截止波長 lc/可選   有
參數(shù)  Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq, 
(帶有公差極限)  Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
(DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
Rz1max, Rmax (DIN 4288),
Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
(DIN EN ISO 13565)
Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
W, Aw, Rx, , Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
(ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
(JIS B 601)
參數(shù)表 Rmr; Pmr; Rdc; Pdc; Rk; Rz; Rp;
Nf; CR/CF/CL (輪廓種類可選, 基線
和交叉線可調(diào))
特征曲線  輪廓圖, 材質(zhì)比率(Abbott 曲線), 震
幅密度; (輪廓種類可選)
校準(zhǔn)功能  動態(tài)和靜態(tài)
公差監(jiān)控  有, zui大/zui小
自動功能  有, 選擇標(biāo)準(zhǔn)濾波器和掃瞄長度
統(tǒng)計  每個測量程序10 個參數(shù)
X, S, R; Max, Min, zui多 200 個測量
超差結(jié)果統(tǒng)計
無效測量統(tǒng)計
13 種語言   英語, 德語, 法語, 意大利語, 葡萄
牙語, 西班牙語, 瑞典語, 丹麥語,
捷克語, 波蘭語, 中文, 韓語, 日本
軟件 S2Prog Windows 程序;
MarSurf  XR 20 (可選)
密碼保護  有
日期/時間   有
單位 mm/inch   可選
存儲 PCMCIA 記憶卡用來存儲輪廓、測
量結(jié)果、測量程序/ 內(nèi)置存儲測量結(jié)
果和統(tǒng)計
顯示  帶背景光的 LCD 圖像顯示, 黑白480 x
320 像素, 輪廓演示
鍵盤  薄膜鍵盤
打印機  熱敏圖表打印機,
384 點/行;
8 點/mm  (200 點/in) 
打印速度  5 mm/s (.2 in/s)
打印  自動/手動, 記錄日期和/或時間
尺寸 (高x闊x深)   約 150 x 320 x 250 mm
(5.906 x 12.600 x 9.843 in)
裝置防護等級 IP 40;
鍵盤防護等級 IP 54;
溫度范圍
存儲  –15 to +55 °C (41°F to 104°F) 
操作  +5 to +40 °C (5°F to 131°F) 
相對濕度 30 % to 85 % (非壓縮) 
重量 < 3 kg (6.6 lbs)
電源  拔插電源9 V; 鎳鎂電池
充電情況顯示  有顯示
電源管理  有
連接  驅(qū)動器, RS 232 C 和 SPC 接口, 拔插
電源, PCMCIA 卡槽, 保險絲
電感傳感器  運送頻率 20 kHz
傳感器種類/  R-系列 (滑塊):
測量范圍
(設(shè)定 2 μm   ±50/250 μm (± 2000 μin/10,000 μin)
(.00039 in)/90°) MFW (skidless): ±250  μm (10,000 μin)
FRW (skidless)  (10 μm (400 μin), 90°):
± 750 μm (30,000 μin)
Focodyn, LS1/LS10 (選配):
± 250 μm (10,000 μin)
測量力   R-系列: 約 0.7 mN
MFW: 0.7 mN / FRW: 6 mN
Focodyn/LS 1/LS 10: 激光
驅(qū)動器 PZK, GD 25, PGK 120, PRK 通過 PAV 62
測量速度  0.1 和 0.5 mm/s (.0394 和 0.197 in/s)
篤摯儀器簡介：
篤摯儀器（上海）有限公司以“優(yōu)質(zhì)成就價值——Focus On Better Quality”為宗旨，專注于計量檢測和材料分析設(shè)備的研究、引進(jìn)與推廣，公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設(shè)計、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性。