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EPK上?？偞鞰iniTest 7400測厚儀
EPK上?？偞鞰iniTest 7400測厚儀
Minitest7400涂層測厚儀是德EPK生產(chǎn)研發(fā)的涂層測厚儀，屬于同類測厚儀中的產(chǎn)品，儀器操作簡單，菜單界面直觀清晰，通過圖形界面操作,并提供類似于電腦的幫助功能:上下文相關(guān)的幫助,歸檔文件夾結(jié)構(gòu)和菜單驅(qū)動(dòng)的導(dǎo)航數(shù)據(jù)的符號(hào)和文本顯示?？梢灾苯语@示統(tǒng)計(jì)值，趨勢圖，直方圖。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
涂層測厚儀產(chǎn)品特征：
具有上下文相關(guān)聯(lián)機(jī)幫助的直觀菜單控件確保易于使用。
大背光控制鍵允許額外的舒適，即使戴著工作手套。
的觀察條件由大背光圖形顯示器提供
方便在夜間和能見度差的條件下使用。
配備一個(gè)配置助手，MiniTest 7400簡化了校準(zhǔn)和參數(shù)設(shè)置，允許在zui短的時(shí)間內(nèi)解決困難的測量任務(wù)，而無需特殊技能。
PC類似數(shù)據(jù)管理提供快速創(chuàng)建文件夾和輕松設(shè)置定制批次。
除了讀數(shù)的數(shù)字顯示外，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和讀數(shù)的清晰排列的表示包括趨勢和直方圖，過程能力指數(shù)“Cp”和“Cpk”以及塊值統(tǒng)計(jì)。
錯(cuò)誤的讀數(shù)可以從批處理中刪除，以防止誤導(dǎo)性統(tǒng)計(jì)
